| 发明名称 |
TEMPERATURE MEASUREMENT PROBE AND TEMPERATURE MEASUREMENT SYSTEM |
| 摘要 |
<p>【課題】高周波の電磁波の照射を伴う高磁場の環境下における測定対象の局所的な温度を高速サンプリング周期で精度よく測定することができる温度測定プローブ及び温度測定システムを提供する。【解決手段】測定温度に応じて電気信号を出力する温度測定プローブ１００であって、非磁性の熱電対１１１，１１２と、熱電対１１１，１１２の出力端に接続され絶縁性の磁気シールド材で被覆された導線１２１、１２２とを備える。熱電対１１１，１１２は、非浸潤処理された非磁性の絶縁体からなる被覆部１１３で被覆してもよい。導線１２１、１２２は、熱電対の補償導線を兼ねてもよい。【選択図】図１</p> |
| 申请公布号 |
JP2015148455(A) |
申请公布日期 |
2015.08.20 |
| 申请号 |
JP20140020099 |
申请日期 |
2014.02.05 |
| 申请人 |
TORECK CO LTD ; TOHOKU UNIV |
发明人 |
SENDA KOICHI ; NAGASAKA TATSUO ; KATO KATSUHIKO |
| 分类号 |
G01K7/02;A61B5/055 |
主分类号 |
G01K7/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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