发明名称 EPITAKTISCHES FILMAUFWACHSEN AUF EINEM GEMUSTERTEN SUBSTRAT
摘要 <p>Eine Ausführungsform beinhaltet ein Abscheiden eines Materials auf einem Substrat, wobei das Material eine von der des Substrats (z. B. epitaktisches (EPI-)Material aus III–V- oder Gruppe-IV-Halbleiter auf einem Si-Substrat) verschiedene Gitterkonstante aufweist. Eine Ausführungsform beinhaltet eine EPI-Schicht, die innerhalb eines Grabens gebildet wird, dessen Wände sich annähern, wenn sich der Graben aufwärts erstreckt. Eine Ausführungsform beinhaltet eine EPI-Schicht, die unter Verwendung mehrerer Aufwachstemperaturen innerhalb eines Grabens gebildet wird. Eine Defektbarriere, die in der EPI-Schicht gebildet wird, wenn sich die Temperatur ändert, enthält Defekte innerhalb des Grabens und unter der Defektbarriere. Die EPI-Schicht über der Defektbarriere und innerhalb des Grabens ist relativ defektfrei. Eine Ausführungsform beinhaltet eine EPI-Schicht, die innerhalb eines Grabens getempert wird, um eine Defektauslöschung einzuführen. Eine Ausführungsform beinhaltet ein EPI-Übergitter, das innerhalb eines Grabens gebildet und mit einer relativ defektfreien EPI-Schicht (die noch in dem Graben enthalten ist) abgedeckt wird. Andere Ausführungsformen werden hier beschrieben.</p>
申请公布号 DE112013005557(T5) 申请公布日期 2015.08.20
申请号 DE20131105557T 申请日期 2013.06.29
申请人 INTEL CORPORATION 发明人 GOEL, NITL;MUKHERJEE, NILOY;SUNG, SEUNG HOON;LE, VAN H.;KAVALIEROS, JACK T.;PILLARISETTY, RAVI;GARDNER, SANAZ K.;DASGUPTA, SANSAPTAK;RACHMADY, WILLY;CHU-KUNG, BENJAMIN;RADOSAVLJEVIC, MARKO;DEWEY, GILBERT;FRENCH, MARC C.;KACHIAN, JESSICA S.;CHAU, ROBERT S.;METZ, MATTHEW V.;SATYARTH, SURI
分类号 H01L21/20 主分类号 H01L21/20
代理机构 代理人
主权项
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