| 摘要 |
<p>【課題】微小なチップ電子部品の高速での検査選別を求められるチップ電子部品検査選別装置を用いてのチップ電子部品の検査選別操作の効率向上の実現や検査精度の低下の発生を抑制する改良を提供する。【解決手段】基台に回転可能に軸支されたチップ電子部品搬送円盤、搬送円盤の回転経路に沿って順に設けられた、搬送円盤の透孔にチップ電子部品を供給収容させる部品供給収容部、チップ電子部品の電気特性の検査部、そして検査済みチップ電子部品の分類部を含むチップ電子部品検査選別装置であって、チップ電子部品供給収容部の後端位置から検査部の前端位置の間で、かつ搬送円盤の回転経路に沿う位置に、透孔での収容状態が正常でないチップ電子部品を透孔より離脱させるチップ電子部品除去手段が設けられていることを特徴とする装置。【選択図】図１０</p> |
