一种IC附着力测试机构

摘要

本实用新型公开了一种IC附着力测试机构，包括一底座，所述底座上开设有产品放置槽，所述产品放置槽的两侧分别设置有一用于固定产品的活动压块，所述产品放置槽的一端设置有用于抵推产品的可移动推块组件，所述可移动推块组件与一推拉计相适配，并在所述推拉计的推动下作直线运动。本实用新型结构简单合理，其以低成本的制作代替了高成本的专业测试机台设备，因而很好地降低了成本；此外，本实用新型可以根据产品的规格进行调整，因而机动性更大，适用范围更广，使用更方便。

主权项

一种IC附着力测试机构，其特征在于，包括一底座，所述底座上开设有产品放置槽，所述产品放置槽的两侧分别设置有一用于固定产品的活动压块，所述产品放置槽的一端设置有用于抵推产品的可移动推块组件，所述可移动推块组件与一推拉计相适配，并在所述推拉计的推动下作直线运动。