发明名称 | 静电场干扰测试装置与其方法 | ||
摘要 | 一种静电场干扰测试装置与其方法,其静电场干扰测试装置包括静电放电产生器与导电件。导电件邻近于静电放电产生器的输出端并电连接于接地端。当静电放电产生器对导电件进行空气放电时,导电件会因为瞬间电流而产生一测试电磁场,此测试电磁场可以用来测试待测组件对静电场强的防护能力。 | ||
申请公布号 | CN103091574B | 申请公布日期 | 2015.08.19 |
申请号 | CN201110347783.7 | 申请日期 | 2011.11.07 |
申请人 | 纬创资通股份有限公司 | 发明人 | 锺文超;郑钦隆;魏嘉亨;熊岳鹏 |
分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人 | 冯志云;吕俊清 |
主权项 | 一种静电场干扰测试装置,用于对一待测组件进行静电场干扰测试,包括:一静电放电产生器,具有一输出端;以及一导电件,该导电件由导体形成且电连接至一接地端,并且该导电件位于该静电放电产生器的该输出端与该待测组件之间;其中该导电件邻近于该输出端,用以在该静电放电产生器对该导电件进行空气放电时产生一测试电磁场,以对该待测组件进行该静电场干扰测试。 | ||
地址 | 中国台湾新北市 |