一种用于无过零检测IC的测试装置

摘要

本实用新型公开了一种用于无过零检测IC的测试装置，它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路，所述待测试集成电路为无过零检测的半成品集成电路，待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的待测试芯片，所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的相关输入引脚连接，测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的相关输出引脚连接。本实用新型通过直流电源和示波器/万能表，简单有效地检测出待测试集成电路是否正常，能够有效的减少半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。

主权项

一种用于无过零检测IC的测试装置，其特征在于：它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路，所述待测试集成电路为无过零检测的半成品电路，待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相应引脚提供所需直流电压的待测试芯片；所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的输入引脚连接，测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的输出引脚连接。