发明名称 |
试样分析芯片、采用该试样分析芯片的试样分析装置和试样分析方法、以及试样分析芯片的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种将液体输送到形成于芯片上的加样孔内并进行反应的试样分析芯片,其为送液方法简单且输送到各加样孔的液量之间不存在偏差、且成本低廉的试样分析芯片。本发明的试样分析芯片,包括:多个加样孔(102)和与各加样孔连接的流路,其特征在于,所述流路具有用于向各加样孔输送液体的主流路(103),该主流路设置在比所述加样孔更接近旋转中心侧的位置,且在相邻加样孔之间具有旋转中心方向的一个山部。 |
申请公布号 |
CN102369443B |
申请公布日期 |
2015.08.19 |
申请号 |
CN201080014320.2 |
申请日期 |
2010.03.30 |
申请人 |
凸版印刷株式会社 |
发明人 |
小泽知之;西嶋奈绪;殷明 |
分类号 |
G01N35/00(2006.01)I;C12M1/00(2006.01)I;C12Q1/68(2006.01)I;G01N37/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N35/00(2006.01)I |
代理机构 |
隆天知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
崔香丹;洪燕 |
主权项 |
一种试样分析芯片,在基材上具有多个加样孔、与各加样孔连接的流路和向流路注入溶液的注入口,并通过旋转该基材,将溶液分配给各个加样孔,其特征在于,所述基材为圆盘状,所述加样孔配置成与所述基材呈同心圆状,所述基材具有两个贯通孔,所述流路具有用于向上述各加样孔输送液体的主流路,该主流路设置在比所述加样孔更接近旋转中心侧的位置,且在相邻加样孔之间具有相对于旋转中心方向的一个山部,在所述主流路的山部和山部之间的谷部连接所述加样孔和主流路,所述流路具有连接主流路和加样孔的侧路,所述侧路形成为将加样孔侧的离中心点最近的点与所述主流路侧的谷部相连接,所述主流路在一侧端部具有注入口,在另一侧端部具有兼任剩余溶液脱出口和空气脱出口的出口,所述两个贯通孔是用作所述注入口和所述出口的贯通孔,在贴合基材时,所述贯通孔与主流路的端部相一致,所述芯片除了所述注入口/所述出口(107)区域之外,以中心点为轴具有旋转对称性。 |
地址 |
日本国东京都 |