用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置

摘要

本发明公开了用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置，其中，该方法包括：确定第一中间集组，每个中间集均包含电子元件的第一数量的操作参数的组合；确定第二参考集组，其中，所述第二组包含多个集的集合，每个集均包括相应中间集的参数的参数值的所有可能组合；在一组预定集中选择具有第二数量的测试集的第三组，其中，每个预定集均包括预定参数集中的所有参数的参数值的不同组合，使得第二组为多个集的集合的子集，每个集均包含相应测试集的所有参数的第一数量的参数值的所有可能组合。

主权项

一种用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法，所述方法包括：确定第一中间集组，每个中间集均包括从包含预定数量的参数的预定参数集选择的第一数量的参数的组合，其中，所述参数表示所述电子元件的操作参数，并且每个参数均具有大量参数值；确定第二参考集组，其中，所述第二参考集组包含多个集的集合，每个集均包含相应中间集的参数的参数值的所有可能组合；在一组预定集中选择具有第二数量的测试集的第三组，其中，每个预定集均包含来自所述预定参数集中的所有参数的参数值的不同组合，使得所述第二参考集组为多个集的集合的子集，每个集均包括相应测试集的所有参数的第一数量的参数值的所有可能组合，其中，所述集的数量等于所述第三组内的测试集的所述第二数量。