发明名称 |
热处理品的温度测定装置和温度测定方法 |
摘要 |
具备测定用窗(32)和温度传感器(34),该测定用窗(32)能够直视设于热处理炉(10)的热处理品(1)的被测定面(1a),该温度传感器(34)设于测定用窗的外侧,并能够通过测定用窗而非接触地测定被测定面(1a)的表面温度。温度传感器(34)具有水的吸收率少的测定波长域(例如1.95μm~2.5μm)。另外,测定用窗(32)由在上述测定波长域具有高的透射率的窗材(例如锗)构成。 |
申请公布号 |
CN103534547B |
申请公布日期 |
2015.08.19 |
申请号 |
CN201280010787.9 |
申请日期 |
2012.02.27 |
申请人 |
株式会社 IHI;IHI 机械系统股份有限公司 |
发明人 |
胜俣和彦;井上纯治;岛田嵩久;工藤晋也;上田亚实 |
分类号 |
F27D21/00(2006.01)I;C21D1/00(2006.01)I;F27D9/00(2006.01)I;F27D21/02(2006.01)I;G01J5/00(2006.01)I;G01J5/06(2006.01)I;C21D1/667(2006.01)I |
主分类号 |
F27D21/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
马友鹏;杨楷 |
主权项 |
一种热处理品的温度测定装置,该热处理品收容于热处理炉内,该热处理炉具备以包含冷却液的液滴的雾气来进行冷却的喷雾冷却装置,该热处理品的温度测定装置具备测定用窗和温度传感器,该测定用窗能够直视设于所述热处理炉的所述热处理品的被测定面,该温度传感器设于该测定用窗的外侧,并能够通过测定用窗而非接触地测定所述被测定面的表面温度,所述温度传感器具有水的吸收率不满100%的测定波长域,所述测定用窗由在所述测定波长域具有高于0%的透射率的窗材构成,该温度测定装置具备温度修正装置,该温度修正装置基于热处理品的放射率的修正系数、窗材的透射率的修正系数、或者雾气浓度的修正系数而修正由所述温度传感器测定的温度测定值。 |
地址 |
日本东京都 |