一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法

摘要

一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法，通过对带EDAC功能SRAM存储器进行全面的功能性能验证来检验带EDAC功能SRAM存储器是否满足于宇航应用要求，验证内容包括带EDAC功能SRAM存储器在EDAC开启和关闭情况下的March C算法验证、1bit注错验证和2bit注错验证。该方法将March C算法的数据背景扩展为32位字定向的算法，同时增加数据保持故障的验证；结合故障注入的EDAC测试程序作为宇航用带EDAC功能SRAM存储器的验证方法。

主权项

一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法，其特征在于步骤如下：(1)将SRAM存储器的EDAC纠错模式开启，进行March C‑算法功能验证，并将每个测试向量的验证结果通过串口发送给上位机，如果所有测试向量的验证结果均为0，令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；总体计数器的初值为0；(2)将SRAM存储器的EDAC纠错模式关闭，再次进行March C‑算法功能验证，并将每个测试向量的验证结果通过串口发送给上位机，如果所有测试向量的验证结果均为0，令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；(3)对SRAM存储器的进行1bit注错测试，并将测试结果上传给上位机，测试结果包括多个SBE软计数器的值和多个SBE硬件计数器的值，如果所有SBE软计数器值均为0并且所有SBE硬件计数器值均为512K，则令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；(4)对SRAM存储器的进行2bit注错测试；并将测试结果上传给上位机，测试结果包括多个MBE软计数器的值和多个MBE硬件计数器的值，如果所有MBE软计数器值均为0并且所有MBE硬件计数器值均为512K，则令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；之后进入步骤(5)；(5)判断总体计数器的值，如果总体计数器的值为0，则所述带EDAC功能的SRAM存储器功能验证通过，否则表明SRAM存储器功能异常。