| 发明名称 | 具有脉冲整形器的探测器 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于探测入射辐射的光子的探测器单元(100)。所述探测器单元(100)包括信号处理电路(40、50、60)，所述信号处理电路用于生成取决于当前探测到的光子(X)的能量和至少一个处理参数(R<sub>f</sub>)的信号(V<sub>0</sub>)。此外，所述探测器单元包括通量估计器(70)，所述通量估计器用于估计光子的通量并且用于基于估计出的所述通量来调节所述处理参数(R<sub>f</sub>)。所述通量估计器(70)接收来自处理阶段的输入(V<sub>1</sub>)，根据所述处理阶段的输入来估计光子的通量，所述处理阶段独立于所述信号处理电路(40、50、60)的输出。在优选实施例中，所述信号处理电路是整形器(40)或包括整形器(40)。 | ||
| 申请公布号 | CN104854475A | 申请公布日期 | 2015.08.19 |
| 申请号 | CN201380065205.1 | 申请日期 | 2013.12.12 |
| 申请人 | 皇家飞利浦有限公司 | 发明人 | E·勒斯尔;R·斯特德曼布克 |
| 分类号 | G01T1/17(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/17(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 李光颖;王英 |
| 主权项 | 一种用于探测入射辐射的光子的探测器单元(100)，包括：‑信号处理电路(40、50、60)，其用于生成信号(V<sub>0</sub>)，所述信号取决于当前探测到的光子(X)的能量和至少一个处理参数(R<sub>f</sub>)；‑通量估计器(70)，其用于估计光子的通量，并且用于基于估计出的所述通量来调节所述处理参数(R<sub>f</sub>)，其中，所述通量估计器(70)接收来自处理阶段的所述通量估计器的输入信号(V<sub>1</sub>)，所述处理阶段独立于所述信号处理电路(40、50、60)的输出。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||