发明名称 |
一种非感光性聚酰亚胺钝化层的制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种非感光性聚酰亚胺钝化层的制作方法,在需要制作钝化层的基片上进行非感光性聚酰亚胺的旋涂和烘烤,采用低温的方法生长一层二氧化硅,在二氧化硅上进行光刻胶的旋涂和烘烤,曝光显影获得光刻胶图形,以光刻胶图形为掩膜层,刻蚀二氧化硅形成图形,剥离去除光刻胶,再以图形化的二氧化硅为掩膜层,干法刻蚀非感光性聚酰亚胺以形成图形,再用干法回刻的方法去除二氧化硅,最后经固化后获得非感光性聚酰亚胺钝化层。本发明解决了传统非感光性聚酰亚胺工艺中金属铝被显影腐蚀、非感光性聚酰亚胺的形貌差以及光刻胶残留等问题。 |
申请公布号 |
CN103137469B |
申请公布日期 |
2015.08.19 |
申请号 |
CN201110374966.8 |
申请日期 |
2011.11.22 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
郭晓波 |
分类号 |
H01L21/312(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/312(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
王函 |
主权项 |
一种非感光性聚酰亚胺钝化层的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)提供一需制作非感光性聚酰亚胺钝化层的基片;所述基片上的顶层金属连线已经形成,或者所述基片上的顶层金属连线以及介质层钝化膜的图形已经形成;(2)在基片上进行非感光性聚酰亚胺的旋涂、烘烤;所述的非感光性聚酰亚胺是指其对波长436纳米的G‑line,波长365纳米的I‑line,波长248纳米的KrF和波长193纳米的ArF中的任意一种或多种光不具有光敏性;(3)采用低温氧化法生长二氧化硅薄膜层;(4)光刻胶的旋涂、烘烤;(5)曝光及显影获得光刻胶图形;(6)以光刻胶图形为刻蚀掩膜层,刻蚀二氧化硅薄膜层形成图形;(7)剥离去除光刻胶;(8)以图形化的二氧化硅薄膜层为刻蚀掩膜层,干法刻蚀非感光性聚酰亚胺以形成钝化层图形;(9)用干法回刻的方法去除二氧化硅薄膜层;(10)固化后获得非感光性聚酰亚胺钝化层。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |