被检体信息获得装置、程序和成像系统

摘要

本发明涉及一种通过使用关于由切变干涉计产生的干涉图案的信息获得关于被检体的相位图像的信息的被检体信息获得装置，干涉图案是由穿过被检体或者被其反射的电磁波或电子束形成的。装置包括：被配置为通过使用关于干涉图案的信息获得关于被检体的微分相位图像的信息的第一获得单元；被配置为获得关于干涉图案的各区域中的对比度的信息的第二获得单元；被配置为通过使用关于对比度的信息对关于微分相位图像的信息加权以获得关于加权的微分相位图像的信息的第三获得单元；以及被配置为对关于加权的微分相位图像的信息进行积分以获得关于被检体的相位图像的信息的第四获得单元。

主权项

一种被检体信息获得装置，其通过使用关于由切变干涉计产生的干涉图案的信息获得关于被检体的相位图像的信息，所述干涉图案是由穿过被检体或者被所述被检体反射的电磁波或电子束形成的，该装置包括：被配置为通过使用关于所述干涉图案的信息获得关于被检体的微分相位图像的信息的第一获得单元；被配置为获得关于所述干涉图案的各区域中的对比度的信息的第二获得单元；被配置为通过使用关于所述对比度的信息对关于所述微分相位图像的信息加权以获得关于加权的微分相位图像的信息的第三获得单元；以及被配置为对关于所述加权的微分相位图像的信息进行积分以获得关于被检体的所述相位图像的信息的第四获得单元。