发明名称 | 一种高提取外量子效率的LED芯片制造方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种高提取外量子效率的LED芯片制造方法,包括以下步骤:步骤(1):在图形化衬底上一次生长GaN层、N-GaN层、量子阱层、P-GaN层、沉积ITO层;步骤(2):在P-GaN或ITO表面悬图一层光阻液;步骤(3):对光阻液进行图形曝光、显影、烘烤等黄光工艺或采用纳米压印的方式制备图形;步骤(4):选用ICP或湿法蚀刻方法对其进行图形转移至外延片或ITO层。本发明将通过在P-GaN层或在ITO层进行开微孔,一方面破坏光在经过P-GaN层、ITO、SiO<sub>2</sub>与空气界面时发生反射现象;另一方面降低P-GaN层、ITO的光吸收,有效增加了光出射的机率,提高发光效率。本发明方法通过现有的技术易实现、过程受控、便于产业化生产。 | ||
申请公布号 | CN104851946A | 申请公布日期 | 2015.08.19 |
申请号 | CN201510278444.6 | 申请日期 | 2015.05.27 |
申请人 | 合肥彩虹蓝光科技有限公司 | 发明人 | 吕振兴 |
分类号 | H01L33/00(2010.01)I | 主分类号 | H01L33/00(2010.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种高提取外量子效率的LED芯片制造方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤(1):在图形化衬底上一次生长GaN层、N‑GaN层、量子阱层、P‑GaN层、沉积ITO层;步骤(2):在P‑GaN或ITO表面悬图一层光阻液;步骤(3):对光阻液进行图形曝光、显影、烘烤等黄光工艺或采用纳米压印的方式制备图形;步骤(4):选用ICP或湿法蚀刻方法对其进行图形转移至外延片或ITO层。 | ||
地址 | 230012 安徽省合肥市新站区工业园内 |