发明名称 半导体装置;SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 本发明的一个方式提供包括使用氧化物半导体并通态电流大的电晶体的半导体装置。本发明的一个方式是一种半导体装置,包括:设置在驱动电路部中的第一电晶体;以及设置在像素部中的第二电晶体,其中,第一电晶体的结构和第二电晶体的结构互不相同。此外,第一电晶体及第二电晶体为顶闸极结构的电晶体,闸极电极不与被用作源极电极及汲极电极的导电膜重叠。此外,在氧化物半导体膜中,在不与闸极电极、源极电极及汲极电极重叠的区域中具有杂质元素。
申请公布号 TW201531781 申请公布日期 2015.08.16
申请号 TW103144801 申请日期 2014.12.22
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. 发明人 山崎舜平 YAMAZAKI, SHUNPEI;肥纯一 KOEZUKA, JUNICHI;神长正美 JINTYOU, MASAMI;岛行徳 SHIMA, YUKINORI;羽持贵士 HAMOCHI, TAKASHI;中泽安孝 NAKAZAWA, YASUTAKA
分类号 G02F1/1362(2006.01);H01L29/786(2006.01) 主分类号 G02F1/1362(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP
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