发明名称 |
多埠量测技术;MULTI-PORT MEASUREMENT TECHNIQUE |
摘要 |
本发明系关于用于计算一线性网路之一或多个散射参数的一种设备、一种方法及一种电脑程式,该网路包含经调适以提供电气连接的一数目N个埠。该设备经组配以基于在该线性网路之一或多个埠处对在该线性网路之一埠处施加的一入射波的一所量测电气回应计算该线性网路之一或多个散射参数,该一或多个散射参数系关于一参考阻抗,该所量测电气回应系在该线性网路之其他埠中的一或多者面临具有0.5或更大之一振幅ρ的一反射系数Γ的条件下量测。该方法包含基于在该线性网路之一或多个埠处对在该线性网路之一埠处施加的一入射波的一所量测电气回应计算该线性网路之一或多个散射参数,该一或多个散射参数系关于一参考阻抗,该电气回应系在该线性网路之其他埠中的一或多者面临具有0.5或更大之一振幅ρ的一反射系数Γ的条件下量测。该电脑程式经调适以执行此类方法,并在一电脑上执行。 |
申请公布号 |
TW201531722 |
申请公布日期 |
2015.08.16 |
申请号 |
TW103144480 |
申请日期 |
2014.12.19 |
申请人 |
爱德万测试(新加坡)私人有限公司 ADVANTEST (SINGAPORE) PTE. LTD. |
发明人 |
毕安琪 乔凡尼 BIANCHI, GIOVANNI |
分类号 |
G01R31/316(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/316(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
恽轶群陈文郎 |
主权项 |
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地址 |
新加坡 SG |