| 摘要 |
<p>Bei einem Verfahren sowie einer Vorrichtung zum Erfassen von Elementarteilchen, wie beispielsweise Protonen, Ionen, Elektronen, Neutronen, Photonen oder dgl., in einem Detektor (1), wobei beim Durchtritt eines Teilchens durch den Detektor (1) ein Ladungsimpuls in dem Detektor (1) erzeugt wird und jeder Ladungsimpuls nachfolgend in ein elektrisches Signal (3) umgewandelt wird und das Signal insbesondere nach einer Verstärkung angezeigt und/oder aufgezeichnet wird, ist vorgesehen, dass einzelne Signale des Detektors in einem ersten, schnellen Verstärker (10) verstärkt werden und/oder eine Integration jeweils einer Mehrzahl von Signalen des Detektors in einem zweiten, langsamen Verstärker (12) durchgeführt wird, wodurch es möglich wird, einzelne Teilchen zu erfassen und insbesondere bei erhöhten Signal- oder Zählraten eine Integration derselben zur Verfügung zu stellen.</p> |
