发明名称 用于电子称量装置的校准结构
摘要 提供了一种用于在制造过程中调节电子称量装置的校准结构(40)的方法,其中,所述校准结构(40)包括转移机构(44),所述转移机构具有驱动系统(43),且校准结构(40)将至少一个校准重量体(41)耦合到力测量装置(1),所述耦合通过转移机构(44)使校准重量体(41)在空悬位置(58)与校准位置(57)之间引导地运动实现。根据本方法,校准重量体首先移动到第一端部止挡,然后移动到第二端部止挡,其中,两个端部止挡之间的行进步数借助于计数系统(56)测量,且暂时储存在存储器中。所述步数通过减去分别表示校准位置与第一端部止挡之间的距离、空悬位置与第二端部止挡之间的距离的两个参数而被减小,且被减小的步数作为空悬位置与校准位置之间的行进距离储存。
申请公布号 CN102200469B 申请公布日期 2015.08.12
申请号 CN201110075552.5 申请日期 2011.03.23
申请人 梅特勒-托利多公开股份有限公司 发明人 M·于斯泰尔
分类号 G01G23/01(2006.01)I 主分类号 G01G23/01(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 蔡洪贵
主权项 一种用于在制造过程中调节电子称量装置的校准结构(40)的方法,所述电子称量装置包括校准结构(40)和力测量装置(1),所述校准结构(40)包括转移机构(44),所述转移机构具有驱动系统(43),其中,校准结构(40)将至少一个校准重量体(41)耦合到力测量装置(1),所述耦合通过使校准重量体(41)在空悬位置(58)与校准位置(57)之间被引导地运动的转移机构(44)实施,其中,所述方法包括以下步骤:‑将校准重量体(41)移动到第一端部止挡(45);‑然后将校准重量体(41)移动到第二端部止挡(45);‑借助于计数系统(56)测量两个端部止挡(45)之间的行进距离,其中,所述行进距离的行进步被累加地记录,且至少暂时地将记录结果作为两个端部止挡(45)之间的行进步数储存;‑从测量出的行进步数减去表示距离第一端部止挡(45)确定距离的第一行进步数以获得第一差值,并将所述第一差值作为空悬位置(58)与第一端部止挡(45)之间的行进距离储存;‑从表示空悬位置(58)与第一端部止挡(45)之间的行进距离的计算出的行进步数减去表示距离第二端部止挡(45)确定距离的第二行进步数以获得第二差值,并将所述第二差值作为空悬位置(58)与校准位置(57)之间的行进距离储存。
地址 瑞士格赖芬塞