一种用高温测试晶体管异常的装置

摘要

本实用新型公开了一种用高温测试晶体管异常的装置，是由震盘、测试导轨、加热棒、温控仪、连接导线、斜管、组合箱、传动箱、转动轴、工作台、底座和支架组成，所述的支架连接底座的两端，工作台连接支架上方，组合箱连接底座上方，转动轴连接组合箱与工作台，斜管连接转动轴，温控仪连接工作台右边，震盘连接温控仪上方，测试导轨的一端连接震盘，另一端连接加热棒，加热棒的右侧连接传动箱，加热棒通过连接导线与温控仪连接。本实用新型结构简单，使用方便，技术合理。可以大大减少因半导体器件存在的隐患而造成的客户反馈退货等问题，减少企业的运行成本，大大提高了产品的品质，同时也提高了公司的生产效率，节省了运行成本。

主权项

一种用高温测试晶体管异常的装置，是由震盘、测试导轨、加热棒、温控仪、连接导线、斜管、组合箱、传动箱、转动轴、工作台、底座和支架组成，其特征在于：所述的支架连接底座的两端，工作台连接支架上方，组合箱连接底座上方，转动轴连接组合箱与工作台，斜管连接转动轴，温控仪连接工作台右边，震盘连接温控仪上方，测试导轨的一端连接震盘，另一端连接加热棒，加热棒的右侧连接传动箱，加热棒通过连接导线与温控仪连接。2.根据权利要求1所述的一种用高温测试晶体管异常的装置，其特征在于：所述的斜管与转动轴的夹角为30度。3.根据权利要求1所述的一种用高温测试晶体管异常的装置，其特征在于：所述的加热棒采用恒定功率600W。4.根据权利要求1所述的一种用高温测试晶体管异常的装置，其特征在于：所述的组合箱内部划分了多个与晶体管大小相匹配的放置格，每个放置格内部均设置有海绵垫。