一种芯片和一种芯片并行测试的方法

摘要

本发明提供了一种芯片和一种芯片平行测试的方法，其中的芯片具体包括：多个并口；接口转换单元，包括多个接口，其中，所述接口与所述多个并口相连，且所述接口与测试机台的探针一一对应相连，包括：串行接收模块，用于串行接收来自所述测试机台的测试数据；及并行输入模块，用于在接收完毕后，将所述测试数据并行输入至所述多个并口；处理单元，用于针对所述多个并口的测试数据，处理得到相应的处理数据；及并转串输出单元，用于将所述多个并口的处理数据，通过并转串的方法输入至所述接口转换单元；所述接口转换单元还包括：串行输出模块，用于将所述处理数据，串行输出至所述测试机台。本发明用以提高芯片的并行测试速度，降低测试成本。

主权项

一种芯片，其特征在于，包括：多个并口；接口转换单元，包括多个接口；其中，所述接口转换单元用于将所述多个并口转换为串行外围接口，以通过所述串行外围接口在测试机台和待测芯片之间进行同步串行数据传输；其中，所述接口与所述多个并口相连，且所述接口与测试机台的探针一一对应相连；所述接口转换单元还包括：串行接收模块，用于串行接收来自所述测试机台的测试数据；及并行输入模块，用于在接收完毕后，将所述测试数据并行输入至所述多个并口；所述芯片还包括：处理单元，用于针对所述多个并口的测试数据，处理得到相应的处理数据；及，并转串输出单元，用于将所述多个并口的处理数据，通过并转串的方法输入至所述接口转换单元；所述接口转换单元还包括：串行输出模块，用于将所述处理数据，串行输出至所述测试机台；其中，所述接口转换单元通过接口在测试机台和待测芯片之间进行同步串行数据传输，以及，在待测芯片内部，通过接口与所述多个并口交换数据。