半导体元件测试系统及其影像处理加速方法

摘要

本发明是关于一种半导体元件测试系统及其影像处理加速方法。此系统包含半导体元件测试接口、测试机台、至少两台影像处理电脑及主电脑。半导体元件测试接口可撷取至少一个待测半导体元件的影像信号，测试机台包含影像处理模块，影像处理模块执行交错处理程序，影像处理模块交错传送至少一个待测半导体元件的不同影像信号至各影像处理电脑，使其中一个影像处理电脑正在对影像信号执行影像分析运算时，另一个影像处理电脑则在接收另一个影像信号，主电脑接收上述至少两台影像处理电脑的分析结果，并根据分析结果传送指令至测试机台。利用本发明能有效解决传输接口的问题，加速影像演算的速度，可直接与客户端具相异接口的设备结合，使用上极具弹性。

主权项

一种半导体元件测试系统，其特征在于其包含：半导体元件测试接口，撷取至少一个待测半导体元件的多个影像信号；测试机台，连结于该半导体元件测试接口，该测试机台包含影像处理模块；至少两台影像处理电脑，连结于该测试机台；以及主电脑，连结于该测试机台及上述至少两台影像处理电脑；其中，该影像处理模块执行交错处理程序，该影像处理模块交错传送该至少一个待测半导体元件的不同的影像信号至各个该影像处理电脑，使其中一个该影像处理电脑正在对影像信号执行影像分析运算时，另一个该影像处理电脑则在接收另一个影像信号，该主电脑接收上述至少两台影像处理电脑的分析结果，并根据分析结果传送指令至该测试机台。