发明名称 |
用于辐射检测器晶体的光学界面图案形成 |
摘要 |
用于辐射检测器晶体的光学界面图案形成。一种辐射检测器被公开,它包含闪烁晶体和多个光电探测器,这些光电探测器被定位以检测闪烁晶体内产生的低能闪烁光子。该闪烁晶体使用表面下激光雕刻处理,以在晶体内产生点状缺陷,用于改变闪烁光子的路径。在一个实施例中,这些缺陷在单块晶体内定义多条边界,以划分单独检测器单元。在另一个实施例中,这些缺陷定义沿纵向改变的交互作用深度边界,以改变被晶体的相邻部分分享的光的量。在另一个实施例中,这些缺陷被均等地分布,以降低来自闪烁事件的光的侧向扩展。这些不同方面中的两个或多个方面,可以被组合在单个闪烁晶体中。此外或另外,类似的SSLE缺陷可以在辐射检测器的其他光引导单元中产生。 |
申请公布号 |
CN102655813B |
申请公布日期 |
2015.08.12 |
申请号 |
CN201080056301.6 |
申请日期 |
2010.10.27 |
申请人 |
华盛顿大学商业中心 |
发明人 |
T·K·勒维尔恩;W·C·J·亨特;R·S·米瑶卡;L·麦克多纳德 |
分类号 |
A61B6/12(2006.01)I;G01T1/24(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/12(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
蒋世迅 |
主权项 |
一种闪烁晶体型辐射检测器,包括:由闪烁材料形成的透明闪烁器块,该闪烁材料被配置成在释放大量低能光子的闪烁事件中与高能光子交互作用;多个光电探测器,被定位以便接收至少一些来自闪烁事件的低能光子,并产生对应的输出信号;和计算机系统,被配置成从该多个光电探测器接收输出信号,并计算闪烁器块内闪烁事件的位置;其中该闪烁器块包含用表面下激光雕刻在闪烁器块内建立的多个内部缺陷,且其中该多个内部缺陷被配置成改变闪烁器块内大量低能光子中的至少一些的路径,以及其中该闪烁器块包括至少一个交互作用深度晶体单元,该交互作用深度晶体单元包括第一部分和第二部分,该第一部分有该多个光电探测器之一在该晶体单元的第一端,该第二部分有该多个光电探测器的不同的之一在该晶体单元的第一端,且其中该多个内部缺陷被沿划分该第一部分与该第二部分的横向平面布置。 |
地址 |
美国华盛顿 |