| 发明名称 | 一种检测相位的系统和方法和检测折射率的系统和方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种检测相位的系统和方法和检测折射率的系统和方法。该检测相位的系统包括光学系统、弱测量单元和光谱仪，所述光学系统将平行光输出至所述弱测量单元，所述弱测量单元使所述平行光中的P偏振光发生相位变化、进行放大并输出至光谱仪，所述光谱仪记录光谱中心波长的移动并根据波长的移动得出相位。 | ||
| 申请公布号 | CN104833433A | 申请公布日期 | 2015.08.12 |
| 申请号 | CN201510240949.3 | 申请日期 | 2015.05.12 |
| 申请人 | 清华大学深圳研究生院 | 发明人 | 张怡龙;李东梅;何永红;马辉;刘乐 |
| 分类号 | G01J9/00(2006.01)I;G01N21/21(2006.01)I | 主分类号 | G01J9/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人 | 江耀纯 |
| 主权项 | 一种检测相位的系统，其特征在于：包括光学系统、弱测量单元和光谱仪，所述光学系统将平行光输出至所述弱测量单元，所述弱测量单元使所述平行光中的P偏振光发生相位变化、进行放大并输出至光谱仪，所述光谱仪记录光谱中心波长的移动并根据波长的移动得出相位。 | ||
| 地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区 | ||