发明名称 一种LTCC材料介电常数的测试方法及其适用于该方法的夹具和谐振环器件
摘要 本发明涉及一种LTCC材料介电常数的测试方法及其适用于该方法的夹具和谐振环器件,测试方法步骤如下:1)先制作LTCC谐振环;2)利用光学显微镜量测LTCC谐振环的内外半径,线宽,厚度;3)将网络分析仪与测试夹具连接好,再将制作好的LTCC谐振环放入测试夹具测试;4)根据光学显微镜的测量数据和网络分析仪的测试结果,利用换算公式计算该LTCC谐振环所用的LTCC材料的介电常数值;同理,根据实际测试结果,对仿真模型进行修正,是其谐振频率到达测试频点,以此得出介电常数的仿真反馈结果;5)将理论计算结果、仿真反馈结果与进料标定值进行对比验证。本发明利用现成的LTCC制成工艺,制作和测试上更为方便。
申请公布号 CN104833857A 申请公布日期 2015.08.12
申请号 CN201510073005.1 申请日期 2015.02.11
申请人 嘉兴佳利电子有限公司 发明人 罗昌桅;孙超;王莉;唐雄心;陆德龙
分类号 G01R27/26(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I;G01R1/20(2006.01)I 主分类号 G01R27/26(2006.01)I
代理机构 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 代理人 王从友
主权项 一种LTCC材料介电常数的测试方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:1)先用同一批生瓷片通过LTCC工艺进行制作LTCC谐振环;2)利用光学显微镜的自带测量工具量测LTCC谐振环的内外半径,线宽,厚度,并保存数据;3)将网络分析仪的两个端口通过同轴线与测试夹具的两个SMA头连接好,再将制作好的LTCC谐振环放入测试夹具的制定区域内进行测试,保存测试数据;4)根据光学显微镜的测量数据和网络分析仪的测试结果,利用换算公式<img file="re-FDA0000738367530000011.GIF" wi="638" he="184" />p=1,2,3…,<img file="re-FDA0000738367530000012.GIF" wi="698" he="372" />其中,r1代表LTCC谐振环内圈的半径,r2代表LTCC谐振环外圈的半径,h为LTCC谐振环的厚度,w为LTCC谐振环表面的线宽;计算该LTCC谐振环所用的LTCC材料的介电常数值;同理,根据实际测试结果,对仿真模型进行修正,是其谐振频率到达测试频点,以此得出介电常数的仿真反馈结果;5)将理论计算结果、仿真反馈结果与进料标定值进行对比验证。
地址 浙江省嘉兴市经济开发区塘汇街道正原路66号