平板探测器的坏点校正方法

摘要

本发明提供一种平板探测器的坏点校正方法，是对平板探测器进行坏点识别，将坏点分为第一类坏点和第二类坏点，并分别采取不同的方法校正第一类坏点和第二类坏点。此方法分别对相对独立的坏点和相对集中的坏点采取不同的方法进行校正，可以降低校正难度，提高校正的准确性。

主权项

一种平板探测器的坏点校正方法，其特征在于，包括对平板探测器进行坏点识别；遍历平板探测器的所有坏点，将第一半径的坏点簇以及第一长度的坏点线定义为第一类坏点；将孤立坏点、第二半径的坏点簇以及第二长度的坏点线定义为第二类坏点；其中，所述第二长度小于所述第一长度，所述第二半径小于所述第一半径；以及对所述第一类坏点与所述第二类坏点分别进行校正。