| 发明名称 | 超级电容单体的复合检测电极结构及检测装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种超级电容单体的复合检测电极结构及检测装置。该复合检测电极结构包括电容检测电极和电阻检测探针，所述电阻检测探针内嵌于所述电容检测电极中，并能够从所述电容检测电极中伸出，所述电容检测电极和所述电阻检测探针之间设置有绝缘层。本发明提供的超级电容单体的复合检测电极结构及检测装置，通过电容检测电极对超级电容单体的容值进行检测，通过电阻检测探针对超级电容单体的电阻进行检测，且在电容检测电极与电阻检测探针之间设置绝缘层，实现了对超级电容单体的电阻和容值的同时检测，提高了对超级电容单体的检测效率，且减小了检测电极本身的电阻对超级电容单体的电阻的干扰，提高了对超级电容单体的电阻的检测精度。 | ||
| 申请公布号 | CN104833827A | 申请公布日期 | 2015.08.12 |
| 申请号 | CN201510194523.9 | 申请日期 | 2015.04.22 |
| 申请人 | 北京天诚同创电气有限公司 | 发明人 | 马永超;亢亚盟 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I;G01R27/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京金律言科知识产权代理事务所(普通合伙) 11461 | 代理人 | 逯博;罗延红 |
| 主权项 | 一种超级电容单体的复合检测电极结构，其特征在于，包括电容检测电极(11)和电阻检测探针(12)，所述电阻检测探针(12)内嵌于所述电容检测电极(11)中，并能够从所述电容检测电极(11)中伸出，所述电容检测电极(11)和所述电阻检测探针(12)之间设置有绝缘层(13)。 | ||
| 地址 | 100176 北京市大兴区亦庄经济技术开发区博兴一路8号 | ||