发明名称 一种NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底的处理方法
摘要 本发明提供一种NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底的处理方法,所述处理方法包括步骤:首先,提供一待处理的NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底,所述待处理的NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底表面是由NdO层和GaO层构成的混合终结面;然后,将所述待处理的NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底进行酸刻蚀,使所述NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底表面初步形成由GaO层构成的单一终结面;最后,将所述NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底置于高温炉中进行退火,获得具有原子尺度表面台阶的GaO单一终结面。通过本发明的处理方法可以将混合终结面的NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底转变为GaO单一终结面的NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底,并且衬底表面具有高度结晶的原子级平整的台阶,有利于后续生长出更为平整、可控且质量更好的氧化物薄膜材料。
申请公布号 CN104831348A 申请公布日期 2015.08.12
申请号 CN201510268586.4 申请日期 2015.05.22
申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 杨海峰;沈大伟;李明颖;刘正太;姚岐;樊聪聪;刘吉山
分类号 C30B19/12(2006.01)I;C30B23/02(2006.01)I;C30B25/18(2006.01)I 主分类号 C30B19/12(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 唐棉棉
主权项 一种NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底的处理方法,其特征在于,所述处理方法至少包括:1)提供一待处理的NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底,所述待处理的NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底表面是由NdO层和GaO层构成的混合终结面;2)将所述待处理的NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底进行酸刻蚀,使所述NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底表面初步形成由GaO层构成的单一终结面;3)将所述NdGaO<sub>3</sub>单晶衬底置于高温炉中进行退火,获得具有原子尺度表面台阶的GaO单一终结面。
地址 200050 上海市长宁区长宁路865号