| 摘要 |
<p>본 발명은 측지 측정 장치(1)를 이용하여 타겟 물체(15) 상의 타겟 포인트의 위치를, 측정 정밀도로 결정하는 방법에 관한 것이다. 상기 방법은 측정 장치의 정렬을 변경하기 위해 측정 장치의 베이스에 관해 피봇될 수 있는 시준 장치, 특히 타겟 망원경을 포함하고, 시준 장치는 광학적 시선을 규정하는 적어도 하나의 대물 유닛, 전자 거리 측정 유닛, 및 광학적 시선 방향에서 열화상을 기록하기 위한 열화상 카메라를 포함한다. 또한, 각도 측정 기능이 시선 정렬을 고정밀도로 기록하기 위해 제공되고, 제어 유닛은 각도 측정 기능, 열화상 카메라, 및 특히 시준 유닛의 정렬을 제어하기 위해 제공된다. 본 발명에 따르면, 측정 과정이 트리거링되는 열영상화 모드(thermal imaging mode)에 있어서, 상기 측정 과정에서 결정되는 시준된 타겟 포인트의 위치 데이터는 시선이 겨냥되는 타겟 포인트에 대한 열화상으로부터 판독되는 온도 정보에 링크된다. 특히, 타겟 포인트의 위치 데이터는 온도 정보와 상관되어 저장된다.</p> |
