发明名称 |
晶片封装体及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种晶片封装体及其制造方法,该晶片封装体包括:一半导体基底;一凹口,位于半导体基底内且邻接半导体基底的一侧边,其中半导体基底具有至少一间隔部,该至少一间隔部突出于凹口的一底部;一导线,设置于半导体基底上,且延伸至凹口内。本发明不仅能够降低与导线电性连接的导电结构的高度,还可减少应力而避免半导体基底破裂,且有效缩短导线的导电路径,进而增加输出信号的布局弹性。另外,由于半导体基底具有突出于凹口的底部的间隔部,因此可避免导线发生短路的问题,进而提升晶片封装体的可靠度。 |
申请公布号 |
CN104835792A |
申请公布日期 |
2015.08.12 |
申请号 |
CN201510060529.7 |
申请日期 |
2015.02.05 |
申请人 |
精材科技股份有限公司 |
发明人 |
何彦仕;刘沧宇;林佳升;郑家明;张恕铭;曾姿雯 |
分类号 |
H01L23/13(2006.01)I;H01L21/58(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/13(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
一种晶片封装体,其特征在于,包括:一半导体基底;一凹口,位于该半导体基底内且邻接该半导体基底的一侧边,其中该半导体基底具有至少一间隔部,该至少一间隔部突出于该凹口的一底部;以及一导线,设置于该半导体基底上,且延伸至该凹口内。 |
地址 |
中国台湾桃园市中坜区中坜工业区吉林路23号9楼 |