发明名称 | 量测装置与量测薄膜的厚度的方法 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI495845 | 申请公布日期 | 2015.08.11 |
申请号 | TW100146654 | 申请日期 | 2011.12.15 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 刘金元 |
分类号 | G01B5/06 | 主分类号 | G01B5/06 |
代理机构 | 代理人 | 祁明辉 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼;林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼 | |
主权项 | 一种量测装置,用以量测一测试结构的厚度,该量测装置包括:一安置座,包括一第一安置元件;以及一量测元件,用以在与该测试结构之上表面碰触的同时,量测该测试结构的厚度,该量测元件包括:一第一移动件,可沿着一第一方向移动;一第二移动件,与该第一移动件互相邻接,且可沿着一第二方向移动,该第二方向与该第一方向不同;及一第一滑接部,固定在该第一安置元件上,其中该第一移动件包括一第二滑接部,该第一滑接部与该第二滑接部互相嵌合,使得该第二滑接部可沿着该第一滑接部的延伸方向移动;该第二移动件包括互相邻接的一第三滑接部、一接触部份与一纪录部份,该第三滑接部与该第二滑接部嵌合,使得该第三滑接部可沿着该第二方向移动,该接触部份用以与该测试结构的上表面接触,该纪录部份用以纪录该第二移动件移动的情况。 | ||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |