发明名称 光学测定装置、光学测定系统以及光纤结合器
摘要
申请公布号 TWI495854 申请公布日期 2015.08.11
申请号 TW100106164 申请日期 2011.02.24
申请人 大塚电子股份有限公司 发明人 大久保和明;田口都一
分类号 G01J3/02;G01J3/28;G01N21/25;G01N21/27 主分类号 G01J3/02
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项 一种光学测定装置,包括:分光测定器;第1光纤,用以传送测定对象的光;半球部,在内壁具有光扩散反射层;及平面部,以闭塞前述半球部的开口部的方式予以配置且在前述半球部的内壁侧具有镜面反射层,前述平面部系包含用以将通过前述第1光纤所射出的光导至藉由前述半球部与前述平面部所形成的积分空间内的第1窗;及第2光纤,其用以将积分空间内的光通过平面部的第2窗而传送至前述分光测定器,其中前述第1光纤与前述第2光纤一体化,以通过邻接形成或一体形成的前述第1窗与前述第2窗来贯穿前述平面部的方式所构成。
地址 日本