发明名称 Halbleiterbauelement mit Randbereich, in dem eine Zone aus porösem Material ausgebildet ist und Verfahren zu dessen Herstellung und Halbleiterscheibe
摘要 <p>Halbleiterbauelement mit einem Halbleiterkörper (10), der einen Aktivbereich (11) in dem Halbleiterkörper (10) und einen den Aktivbereich (11) umgebenden Randbereich (12) in dem Halbleiterkörper (10) aufweist, wobei sich der Randbereich (12) von dem Aktivbereich (11) bis zu einer Kante (13) des Halbleiterkörpers (10) erstreckt und wobei in dem Randbereich (12) eine Zone (14) aus porösem Silizium ausgebildet ist, bei dem das poröse Silizium der Zone (14) eine Porositätεaufweist, wobei gilt: 0,3 <ε< 0,9, wodurch das Eindringen von Kristalldefekten aus dem Randbereich (12) und/oder das Eindringen von Schwermetallen in den Aktivbereich (11) verhindert wird.</p>
申请公布号 DE102008038342(B4) 申请公布日期 2015.08.06
申请号 DE20081038342 申请日期 2008.08.19
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG 发明人 MAUDER, ANTON, DR.;SCHULZE, HANS-JOACHIM, DR.;TIMME, HANS-JOERG, DR.
分类号 H01L29/06;H01L21/301;H01L21/78;H01L23/14;H01L29/165 主分类号 H01L29/06
代理机构 代理人
主权项
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