发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLES AND COLLECTING SAMPLE FRACTIONS |
摘要 |
<p>본 발명에는 하나 이상의 검출기를 사용하여 시료를 분석하는 방법 및 장치가 개시되어 있다.</p> |
申请公布号 |
KR20150090283(A) |
申请公布日期 |
2015.08.05 |
申请号 |
KR20157020256 |
申请日期 |
2008.12.04 |
申请人 |
ALLTECH ASSOCIATES, INC. |
发明人 |
ANDERSON JR. JAMES M.;SAARI NORDHAUS RAAIDAH;MENDOZA WASHINGTON;BYSTRON JOSEF P;HELGEMO DIRK;MC CREARY DENNIS K. |
分类号 |
G01N30/80;G01N30/62;G01N30/72;G01N30/74;G01N30/78;G01N30/82;G01N30/86 |
主分类号 |
G01N30/80 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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