发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLES AND COLLECTING SAMPLE FRACTIONS
摘要 <p>본 발명에는 하나 이상의 검출기를 사용하여 시료를 분석하는 방법 및 장치가 개시되어 있다.</p>
申请公布号 KR20150090283(A) 申请公布日期 2015.08.05
申请号 KR20157020256 申请日期 2008.12.04
申请人 ALLTECH ASSOCIATES, INC. 发明人 ANDERSON JR. JAMES M.;SAARI NORDHAUS RAAIDAH;MENDOZA WASHINGTON;BYSTRON JOSEF P;HELGEMO DIRK;MC CREARY DENNIS K.
分类号 G01N30/80;G01N30/62;G01N30/72;G01N30/74;G01N30/78;G01N30/82;G01N30/86 主分类号 G01N30/80
代理机构 代理人
主权项
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