发明名称 用于相变存储器的相变材料
摘要 本发明提供一种用于相变存储器的相变材料,所述相变材料由Al,Sb,Te元素组成的通式为Al<sub>100-x-y</sub>Sb<sub>x</sub>Te<sub>y</sub>的材料,其中,40≤x<100,y<60。本发明提供的Al-Sb-Te系列相变材料作为相变存储器中的存储介质,可以在电信号作用下实现高低阻值之间的转换。基于Al-Sb-Te系列相变材料的相变存储器在电信号的操作下,低阻阻值大于基于Ge-Sb-Te传统相变材料的器件低阻值,满足了低功耗的需求。并且Al-Sb-Te基相变存储器在循环擦写10<sup>7</sup>次之后仍维持了正常的高低阻差别,体现出器件的循环使用寿命长。本发明的富Sb的Al-Sb-Te材料在结晶状态下的没有产生不稳定的Te元素分相,保障了该材料反复相变之后的均匀性,有益于提高基于该材料的相变存储器的循环操作寿命。
申请公布号 CN103050621B 申请公布日期 2015.08.05
申请号 CN201110306813.X 申请日期 2011.10.11
申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 任堃;饶峰;宋志棠;彭程;宋宏甲;刘波
分类号 H01L45/00(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 李仪萍
主权项 一种用于相变存储器的相变材料,其特征在于:所述相变材料由Al,Sb,Te元素组成的通式为Al<sub>100‑x‑y</sub> Sb<sub>x</sub>Te<sub>y</sub>的材料,其中,40≤x<100,y<60;所述Al<sub>100‑x‑y</sub> Sb<sub>x</sub>Te<sub>y</sub>材料中,Sb与Te的原子数之比大于2:3;所述Al<sub>100‑x‑y</sub> Sb<sub>x</sub>Te<sub>y</sub>材料为富Sb的Al‑Sb‑Te材料;所述富Sb的Al‑Sb‑Te材料在结晶状态下的没有产生不稳定的Te元素分相;所述Al<sub>100‑x‑y</sub> Sb<sub>x</sub>Te<sub>y</sub>材料通过物理气相沉积、化学气相沉积、电镀、溶胶凝胶、或金属有机物沉积手段制备。
地址 200050 上海市长宁区长宁路865号