具有成像光学元件的传感器设备

摘要

本发明涉及一种用于检测结合到载体(11)的结合表面(12)的颗粒(MP)的方法和传感器设备(100)。所述传感器设备(100)包括用于将结合的颗粒(MP)成像于图像传感器(53)上的显微镜(50)。为了增加显微镜(50)的空间分辨率，提供能够使载体(11)相对于图像传感器(53)产生位移的位移单元(60，70，80)。因而能够以高精确度确定结合的颗粒(MP)与所述结合表面(12)的距离和/或对力做出反应的其横向位移。这允许区分经由较小目标颗粒结合到结合表面(12)的大磁性颗粒(MP)的特定结合与非特定直接结合。

主权项

一种传感器设备(100)，用于检测位于载体(11)的结合表面(12)处的颗粒(MP，MP')，包括：a)具有图像传感器(53)的显微镜(50)，颗粒(MP，MP')被成像于所述图像传感器(53)上，其中所述颗粒(MP，MP')包括经由目标颗粒(TP)特定地结合的标签颗粒(MP)和没有利用目标颗粒(TP)非特定地结合的标签颗粒(MP')；b)位移单元(60，70，80)，用于可控地使所述图像传感器(53)相对于所述载体(11)产生位移；c)评估单元(32)，用于评估在所述载体(11)与所述图像传感器(53)的不同相对位移处生成的颗粒(MP，MP')的多个图像，并且其中存在在所述图像传感器上的所述颗粒的所述图像的横向偏移，其中所述评估单元组合来自所述多个图像的信息以增加所述图像传感器的空间分辨率，并且所述评估单元(32)适于确定与颗粒(MP，MP')相对于所述结合表面的距离(z，△H)、颗粒(MP，MP')相对于所述结合表面的横向位移(△x)和/或结合的颗粒(MP)相对于所述结合表面的驻留时间相关的参数以区分所述经由目标颗粒(TP)特定地结合的标签颗粒(MP)和所述没有利用目标颗粒(TP)非特定地结合的标签颗粒(MP')。