发明名称 等离子显示屏制造过程参数重要性的动态确定与优化方法
摘要 本发明公开了一种等离子显示屏制造过程参数重要性的动态确定与优化方法,根据等离子显示屏生产工艺的产品等级和不良类型,采用特征提取技术,在给定多个特征提取的结果后,将多种特征抽取的方法有机地融合到集成特征提取的过程中,从多个角度获取更加稳定的特征提取结果,从而克服了应用单个特征提取方法的弊端和不稳定性,最终形成对等离子显示屏生产数据的更健壮、更为稳定、更具实际意义的展示。
申请公布号 CN103236383B 申请公布日期 2015.08.05
申请号 CN201310161877.4 申请日期 2013.05.04
申请人 四川虹欧显示器件有限公司 发明人 郑理;李涛;王鹏年;雷鸣;段冰;张春;陈小军;何根
分类号 H01J9/00(2006.01)I 主分类号 H01J9/00(2006.01)I
代理机构 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人 邓世燕
主权项 一种等离子显示屏制造过程参数重要性的动态确定与优化方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤一、根据用户提供的全工序生产数据的日期,构建全工序生产工艺的生产数据的数据库;步骤二、对全工序中所有工序的数据内容做串联处理,并按照等离子屏的等级或者不良类型进行划分,将属于特定等级或者特定不良类型的等离子屏分为一组,其它等离子屏分为一组,然后将各组间的等离子屏所对应的生产工艺中的参数进行对齐,形成到全工序数据;步骤三、对步骤二形成的全工序数据进行缺失值处理,并对所有参数上的观测值进行归一化处理;步骤四、筛选出能最大化包括信息增益、增益比、最小化冗余度和最大化相关度在内的三组重要特征的参数列表;其中,信息增益、增益比、最小化冗余度和最大化相关度的计算方法如下:定义T为一个生产数据集合,包含(x,y)=(x<sub>1</sub>,x<sub>2</sub>,…,x<sub>n</sub>,y),其中x<sub>i</sub>∈vals(i)代表生产一个等离子屏数据中的第i个参数的值,y代表当前这个等离子屏的等级或者不良代码;(1)计算信息增益IG(T,a):<img file="re-FDA0000713292440000011.GIF" wi="1504" he="122" />其中:<img file="re-FDA0000713292440000012.GIF" wi="792" he="89" />为信息熵,p(x<sub>i</sub>)代表观测到x<sub>i</sub>的概率;(2)计算增益比:IGR(T,a)=IG(T,a)/ IV(T,a),其中:<img file="re-FDA0000713292440000021.GIF" wi="1328" he="130" />(3)计算最小冗余度和最大相关度:1)计算最小化冗余度mR:<img file="re-FDA0000713292440000022.GIF" wi="858" he="196" />其中,<img file="re-FDA0000713292440000023.GIF" wi="973" he="153" />定义为两个变量a和b之间的交互信息;2)计算最大化相关度MR:<img file="re-FDA0000713292440000024.GIF" wi="791" he="217" />步骤五、将步骤四得到的三组重要特征的参数列表进行整合,得到一组统一的重要参数列表,其中包括了在三组重要特征列表中出现在至少两组重要特征中的参数。
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