一种基于光学图像及微波图像检测目标散射性能缺陷的方法

摘要

本发明提出了一种基于光学图像及微波图像检测目标散射性能缺陷的方法，微波图像对比处理过程包括以下步骤：步骤(1)，光学图像预处理；步骤(2)，光学背景图像和待测划痕图像的刚性配准；步骤(3)，光学图像损伤和划痕的检测；步骤(4)，光学图像匹配矩阵变换；微波图像对比处理过程之后，进行步骤(5)，微波图像损伤检测。本发明基于光学图像和微波图像融合检测目标隐身性能缺陷，利用光学图像获取匹配矩阵，经变换后应用于待测微波图像中，与标准微波图像对比后判定微波图像缺陷位置，可提高微波图像识别的准确度。

主权项

一种基于光学图像及微波图像检测目标散射性能缺陷的方法，其特征在于，微波图像对比处理过程包括以下步骤：步骤(1)，光学图像预处理；步骤(2)，光学背景图像和待测划痕图像的刚性配准；步骤(3)，光学图像损伤和划痕的检测；步骤(4)，光学图像匹配矩阵变换；微波图像对比处理过程之后，进行步骤(5)，微波图像损伤检测。