发明名称 一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长结构及方法
摘要 本发明提出一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长结构及方法,包括:在蓝宝石衬底上依次生长低温GaN成核层、非故意掺杂高温GaN层和n型GaN层;在所述n型GaN层上采用InGaN/GaN界面中断生长技术生长多量子阱层;在所述多量子阱层上依次生长p型AlGaN层和p型GaN层。该方法的特征在于,在InGaN量子阱生长初期,周期性地通入/停止TMIn进入反应室,在增加In气相分压的同时,增加In扩散时间,更加有效地提高InGaN量子阱生长初期In组分,使得InGaN量子阱In组分更加均匀,InGaN/GaN界面更加陡峭,从而提高LED波长均匀性和量子阱发光效率。该方法无需进行流量调整,简单实用,可操作性强。
申请公布号 CN104821352A 申请公布日期 2015.08.05
申请号 CN201510249514.5 申请日期 2015.05.14
申请人 上海世湖材料科技有限公司 发明人 徐丽萍
分类号 H01L33/00(2010.01)I;H01L33/06(2010.01)I;H01L33/32(2010.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2010.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长结构及方法,采用MOCVD技术,高纯NH<sub>3</sub>作为氮源,三甲基镓TMGa与三乙基镓TEGa作为镓源,三甲基铟TMIn作为铟源,三甲基铝TMAl作为铝源,硅烷SiH<sub>4</sub>和二茂镁CP2Mg分别作为n型和p型掺杂剂。该方法包括以下步骤:(1)在蓝宝石衬底上生长低温GaN成核层、非故意掺杂高温GaN层和n型GaN层;(2)在所述n型GaN层上采用InGaN/GaN界面中断生长技术生长多量子阱层;(3)在所述多量子阱层上依次生长p型AlGaN层和p型GaN层。本方法的特征在于:在InGaN量子阱生长初期,周期性地通入/停止TMIn进入反应室,提高量子阱生长初期In组分,使得InGaN量子阱生长初期In组分与正常生长时In组分一致,减小pulling effect,提高波长均匀性,增加量子阱界面陡峭性,提高发光效率。
地址 201306 上海市浦东新区临港海洋高新技术产业化基地A0201街坊1110号