发明名称 | 一种CMOS图像传感器封装结构及其制造方法 | ||
摘要 | 一种CMOS图像传感器封装结构及其制造方法,属传感器领域。光学交互区位于硅衬底正面第一表面的,在光学交互区的上方形成有金属互连层,微镜头阵列放置在金属互联层上方,金属互联层外侧有第一保护层;在第一表面制作未穿透硅衬底的硅通孔和重分布层,光学交互区周围的I/O通过重分布层连接硅通孔;硅通孔孔壁上有作钝化层并填充;在重分布层上有第二保护层;硅衬底同玻璃片键合,玻璃片和硅衬底之间设空腔;硅衬底的第二表面减薄暴露出硅通孔;硅衬底第二表面上制作线路层将硅通孔连接到焊盘垫,线路层上制作防焊层并暴露出焊盘垫;焊球在焊盘垫上。本发明改善了封装结构中玻璃和硅衬底之间的分层问题,提高了可靠性,封装结构适合更大尺寸芯片。 | ||
申请公布号 | CN103000649B | 申请公布日期 | 2015.08.05 |
申请号 | CN201210480106.7 | 申请日期 | 2012.11.22 |
申请人 | 北京工业大学 | 发明人 | 秦飞;武伟;安彤;刘程艳;陈思;夏国峰;朱文辉 |
分类号 | H01L27/146(2006.01)I | 主分类号 | H01L27/146(2006.01)I |
代理机构 | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人 | 魏聿珠 |
主权项 | 一种CMOS图像传感器封装结构,其特征在于:其包括硅衬底(200),所述硅衬底(200)的正面为形成有微镜头(230)、金属互连层(220)和光学交互区(210)的第一表面(201),所述硅衬底(200)的背面为第二表面(202);其中光学交互区(210)位于硅衬底(200)正面第一表面(201)的中央,在光学交互区(210)的上方形成有金属互连层(220),微镜头(230)阵列放置在金属互连层(220)上方,金属互连层(220)外侧形成有第一保护层(235);通过在第一表面(201)制作未穿透硅衬底(200)的硅通孔(260)和重分布层,光学交互区(210)周围的I/O通过重分布层连接到硅通孔(260);硅通孔(260)孔壁上制作有作钝化层(265)并用电镀工艺将孔填充;在重分布层上用聚合物材料制作有台阶式结构的第二保护层(240);硅衬底(200)同玻璃片(250)之间通过聚合物键合胶(255)键合在一起,玻璃片(250)和硅衬底(200)之间设置有通过曝光显影形成的空腔;通过对硅衬底(200)的第二表面(202)进行研磨、蚀刻,对硅衬底(200)进行减薄后暴露出硅通孔(260);在硅衬底(200)的第二表面(202)上制作线路层将硅通孔(260)连接到焊盘垫(290),在线路层上制作防焊层(280)并暴露出焊盘垫(290)以保护第二表面(202)上的线路层;焊球(295)制作在焊盘垫(290)上。 | ||
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