一种基于纳米银膜的光压传感器的光压检测方法

摘要

本发明公开了一种基于纳米银膜的光压传感器及其光压检测方法，其特征是：设置一筒体，在筒体的一端支撑有纳米银膜，在筒体的另一端插入柱状插芯，纳米银膜与柱状插芯之间形成一筒状振动光压腔；柱状插芯中固定有光纤，光纤贯穿所述柱状插芯；光纤的插入端光纤端面为斜面；通过光纤传输检测光和产生待测光压的光信号。本发明体积微型化，光压检测为全光结构，且检测灵敏度高，能适用于多种环境的光压检测。

主权项

一种基于纳米银膜的光压传感器的光压检测方法，其特征是：所述基于纳米银膜的光压传感器的结构为：设置一筒体(11)，在所述筒体(11)的一端支撑有纳米银膜(13)，在所述筒体(11)的另一端插入柱状插芯(10)，所述纳米银膜(13)与所述柱状插芯(10)之间形成一筒状振动光压腔(12)；所述柱状插芯(10)中固定有光纤(3)，所述光纤(3)贯穿所述柱状插芯(10)；所述光纤(3)位于振动光压腔(12)中的光纤端面(14)为斜面；通过光纤(3)传输检测光和产生待测光压的光信号；所述基于纳米银膜的光压传感器的光压检测方法是：待测光压信号光源(8)的光信号通过光纤(3)输入到振动光压腔并照射在纳米银膜(13)表面产生光压，激发纳米银膜振动；振动检测光源(1)的光信号分成两路；第一路光信号经光纤输入振动光压腔(12)，并通过纳米银膜(13)反射形成反射光；第二路光信号经压电陶瓷(4)调制，形成相位调制光；所述反射光与所述相位调制光通过光纤耦合器耦合形成干涉光，光相位解调仪(6)解调所述干涉光，从而获得所述干涉光的强度和频率，根据所述干涉光的强度和频率与光压的线性关系，计算获得所述待测光压信号光源(8)的光压。