发明名称 |
用于微分相衬成像的扫描系统 |
摘要 |
本发明涉及X射线微分相衬成像领域。为了扫描大的对象并且为了改善的对比噪声比,提供一种用于对对象(18)成像的X射线设备(10)。X射线设备(10)包括X射线发射器装置(12)以及X射线检测器装置(14),其中,所述X射线发射器装置(14)适于发射X射线束(16)通过对象(18)到所述X射线检测器装置(14)上。X射线束(16)是至少部分空间相干的以及扇形的。所述X射线检测器装置(14)包括相位光栅(50)及吸收体光栅(52)。X射线检测器装置(14)包括用于检测X射线的面检测器(54),其中,所述X射线设备适于从检测到的X射线产生图像数据并且适于从所述X射线图像数据提取相位信息,所述相位信息与由对象(18)导致的X射线的相移相关。所述对象(18)具有大于X射线检测器(18)的检测面的感兴趣区域(32),并且所述X射线设备(10)适于通过对所述对象(18)和所述X射线检测器装置(14)相对彼此进行移动来产生所述感兴趣区域(32)的图像数据。 |
申请公布号 |
CN102651998B |
申请公布日期 |
2015.08.05 |
申请号 |
CN201080055835.7 |
申请日期 |
2010.12.08 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
K·J·恩格尔;D·格勒;G·福格特米尔;T·克勒 |
分类号 |
A61B6/00(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/00(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
黄云铎;陈松涛 |
主权项 |
一种用于对对象(18)成像的X射线设备,包括:X射线发射器装置(12),X射线检测器装置(14),其中,所述X射线发射器装置(12)适于发射X射线束(16)通过所述对象(18)到所述X射线检测器装置(14)上,其中,所述X射线束(16)是至少部分空间相干的,其中,所述X射线束(16)是扇形的,其中,所述X射线检测器装置(14)包括相位光栅(50)及吸收体光栅(52),其中,所述X射线检测器装置(14)包括用于检测X射线的检测器(54),其中,所述X射线检测器是面检测器(54),其中,所述X射线设备适于从所检测到的X射线产生图像数据并且适于从所述图像数据提取相位信息,所述相位信息与由所述对象(18)导致的X射线的相移相关,其中,所述对象(18)具有大于所述X射线检测器(18)的检测面的感兴趣区域(32),并且所述X射线设备适于通过对所述对象(18)和所述X射线检测器装置(14)相对彼此进行移动来产生所述感兴趣区域(32)的图像数据,并且其中,所述X射线设备适于:在所述对象、所述X射线发射器装置(12)和/或所述X射线检测器装置(14)相对彼此移动时,移动所述相位光栅(50)、所述吸收体光栅(52)以及源光栅(36)中的至少一个光栅,使得所述至少一个光栅相对于所述对象(18)保持固定。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |