发明名称 Apparatus For Function Test of Intelligent Electronic Device(IED) In Substation Automation System Based On IEC61850
摘要 <p>본 발명은 스크립트를 통해 IED(Intelligent Electronic Device, 지능형 전자 장치)에 대한 일반기능시험, 계전특성기능시험 등에 대하여 자동적으로 수행하고 시험결과를 빠른 시간에 판정할 수 있는 IED 기능 시험을 위한 모의 장치에 관한 것이다.</p>
申请公布号 KR101540959(B1) 申请公布日期 2015.08.03
申请号 KR20130147413 申请日期 2013.11.29
申请人 发明人
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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