LED自动寿命测试装置及方法

摘要

本发明LED自动寿命测试装置及方法，属于LED测试技术领域；解决的技术问题是提供了LED自动寿命测试装置及方法，可实现老化环境温度与测试温度的可控性，设置一体化的温控器，实现环境温度与测试温度的调节与监控，确保了LED芯片寿命测试结果的准确性；采用的技术方案为：LED自动寿命测试装置及方法，LED自动寿命测试装置包括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测器、温控器和数据处理模块，电源供应器与测试台电连接，自动载入装置将待测芯片放入测试台，测试台还连接有温控器和探测器，探测器的输出端连接有数据处理模块，LED自动寿命测试方法包括温控器控制温度，校正片校正整个装置，达到精度后放入待测芯片进行测试。

主权项

LED自动寿命测试装置，其特征在于：包括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测器、温控器和数据处理模块，所述电源供应器与测试台电连接并为测试台提供恒定的电流，所述测试台上设置有自动载入装置，所述自动载入装置包括载入台与驱动装置，所述载入台通过驱动装置在测试台上移动，所述测试台还连接有温控器和探测器，所述温控器内设置有温度传感器，所述温控器通过温度传感器控制测试台内的温度，所述探测器内设置有光电转换器并将测试台产生的光信号转换为电信号，所述探测器的输出端连接有数据处理模块，所述数据处理模块将探测器输出的数据进行处理和分析。