发明名称 |
硅锭自动精检生产线 |
摘要 |
本发明公开了一种硅锭自动精检生产线,依次包括上料区、杂质检测工作区、外观检测工作区和下料区,上料区设置有用于取放硅锭的上料机器人,杂质检测工作区设置有传输带、直角坐标机器人和红外检测装置,外观检测工作区设置有外观检测装置,下料区设置有下料机器人,直角坐标机器人抓取传输带上的硅锭送至红外检测装置处,红外检测装置用于检测硅锭的内部杂质,外观检测装置用于检测硅锭的外观缺陷。本发明能够在硅锭的检测过程中实现硅锭的上下料、搬运传送全自动处理,解放了劳动力,提高了生产效率。同时还减少了人工搬运过程中对硅锭的磕碰、划伤等二次伤害,降低了后续的检测和加工的工作量,减少了硅锭原料加工的浪费。 |
申请公布号 |
CN104807832A |
申请公布日期 |
2015.07.29 |
申请号 |
CN201510207553.9 |
申请日期 |
2015.04.28 |
申请人 |
华中科技大学无锡研究院 |
发明人 |
张刚;乔永立;张庆龙;奚云飞 |
分类号 |
G01N21/89(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/89(2006.01)I |
代理机构 |
无锡大扬专利事务所(普通合伙) 32248 |
代理人 |
方为强 |
主权项 |
一种硅锭自动精检生产线,依次包括上料区、杂质检测工作区、外观检测工作区和下料区,其特征在于:上料区设置有用于取放硅锭的上料机器人(4),杂质检测工作区设置有传输带、直角坐标机器人(5)和红外检测装置(6),外观检测工作区设置有外观检测装置(7),下料区设置有下料机器人(8),直角坐标机器人(5)抓取传输带上的硅锭送至红外检测装置(6)处,红外检测装置(6)用于检测硅锭的内部杂质,外观检测装置(7)用于检测硅锭的外观缺陷。 |
地址 |
214174 江苏省无锡市堰新路311号才智广场3号楼11~12楼 |