| 发明名称 | 一种Spectralon漫反射板校正方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种Spectralon漫反射板校正方法，包括步骤：1)光源从不同天顶角照射Spectralon漫反射板，利用光谱仪从不同天顶角和方位角采集相应的反射光谱数据；2)从所述反射光谱数据内截取有效波段范围内的光谱数据，并求平均值，剔除差异相对较大的光谱数据；3)对剩余的光谱数据求残差平方和Rss，确定最稳定的探测器接受天顶角θ<sub>r,degree</sub>的值，并建立任意探测器接受天顶角θ<sub>r</sub>与θ<sub>r,degree</sub>的关系表达式；4)将关系表达式代入Spectralon漫反射板的BRDF表达式，完成Spectralon漫反射板校正。本发明利用Spectralon漫反射板已知的数据进行校正，并计算出探测器接收天顶角方位通用的表达式，为后续试验过程缩短了时间。 | ||
| 申请公布号 | CN104807616A | 申请公布日期 | 2015.07.29 |
| 申请号 | CN201510200904.3 | 申请日期 | 2015.04.24 |
| 申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 方慧;张昭;张畅;杜朋朋;刘飞;何勇 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人 | 胡红娟 |
| 主权项 | 一种Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，包括以下步骤：1)光源从不同天顶角照射Spectralon漫反射板，利用光谱仪从不同天顶角和方位角采集相应的反射光谱数据；2)从所述反射光谱数据内截取有效波段范围内的光谱数据，并求平均值，剔除差异相对较大的光谱数据；3)对剩余的光谱数据求残差平方和Rss，确定最稳定的探测器接受天顶角θ<sub>r,degree</sub>的值，并建立任意探测器接受天顶角θ<sub>r</sub>与θ<sub>r,degree</sub>的关系表达式；4)将关系表达式代入Spectralon漫反射板的BRDF表达式，完成Spectralon漫反射板校正。 | ||
| 地址 | 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 | ||