发明名称 |
X-射线荧光光谱测定焊剂中硫、磷的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种X-射线荧光光谱测定焊剂中硫、磷的方法。所述方法包括如下步骤:一、试样的制备:将待测定焊剂粉碎,过筛、烘干、冷却后,取5g测定焊剂粉末,在不加粘合剂的情况下,制成压片,制备压片的保压时间为25s;二、X-射线荧光分析条件:确定分析线PKα和SKα的2θ角分别为141.043,110.688;三、绘制标准曲线:按仪器工作条件对内控样进行测定,分别以荧光强度为横坐标,硫、磷的质量分数为纵坐标,进行线性回归,绘制标准曲线;四、未知样品分析:设置分析条件,选定分析曲线,用X射线荧光光谱仪测硫、磷的强度,计算出含量,每个样品应至少平行测定二次,结果取平均值。该方法精度和准确度高,且速度快。 |
申请公布号 |
CN104807843A |
申请公布日期 |
2015.07.29 |
申请号 |
CN201510171745.9 |
申请日期 |
2015.04.13 |
申请人 |
江阴市产品质量监督检验所 |
发明人 |
李颖;冯秀梅;陆筱彬;陈连芳;陈君 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
江阴市同盛专利事务所(普通合伙) 32210 |
代理人 |
唐纫兰;隋玲玲 |
主权项 |
一种X‑射线荧光光谱测定焊剂中硫、磷的方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:一、试样的制备:将待测定焊剂粉碎,过筛、烘干、冷却后,取5g测定焊剂粉末,在不加粘合剂的情况下,制成压片,制备压片的保压时间为25s;二、X‑射线荧光分析条件:对 PKα和SKα的2θ角进行扫描,确定分析线PKα和SKα的2θ角分别为141.043,110.688;三、绘制标准曲线:选取几种性质稳定的焊剂,使其含量既能涵盖焊剂试样的浓度范围又有适当的梯度变化,按仪器工作条件对内控样进行测定,分别以荧光强度为横坐标,硫、磷的质量分数为纵坐标,进行线性回归,绘制标准曲线;四、未知样品分析:设置分析条件,选定分析曲线,用X射线荧光光谱仪测硫、磷的强度,计算出含量,每个样品应至少平行测定二次,结果取平均值。 |
地址 |
214434 江苏省无锡市江阴市东外环路188号6号楼 |