发明名称 用于表征被涂覆主体的传感器系统和方法
摘要 本发明题为用于表征被涂覆主体的传感器系统和方法。提供一种通过基于与物理模型的拟合的至少一个涂敷参数来表征被涂覆主体的方法。该方法由传感器系统按照非接触方式来执行,传感器系统包括:发射器系统,用于发射THz辐射;检测器系统,用于检测THz辐射;以及处理单元,操作上耦合到发射器系统和检测器系统。该方法包括:由发射器系统将THz辐射信号发射到被涂覆主体;由检测器系统检测作为与聚合涂敷相互作用的所检测THz辐射信号的响应信号;通过优化模型参数来确定物理模型的模型参数;从所确定模型参数来确定至少一个涂敷参数,其中至少一个涂敷参数包括聚合涂敷的厚度。
申请公布号 CN104807496A 申请公布日期 2015.07.29
申请号 CN201510039912.4 申请日期 2015.01.27
申请人 ABB 技术有限公司 发明人 J.L.M.范梅彻伦;H.梅博德
分类号 G01D21/02(2006.01)I 主分类号 G01D21/02(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 叶晓勇;姜甜
主权项  一种通过基于与物理模型的拟合的至少一个涂敷参数来表征被涂覆主体(2)的方法,其中所述被涂覆主体包括由聚合涂敷(4)、例如涂料膜所涂覆的基底(2a),所述聚合涂敷(4)具有至少一层(4a),并且所述方法由传感器系统(1)按照非接触方式来执行,所述传感器系统包括:发射器系统(10),用于发射THz辐射;检测器系统(20),用于检测THz辐射;以及处理单元(30),操作上耦合到所述发射器系统(10)和所述检测器系统(20),所述方法包括:‑ 由所述发射器系统(10)向所述被涂覆主体(2)发射THz辐射信号(60),使得所述THz辐射与所述聚合涂敷(4)相互作用;‑ 由所述检测器系统(20)检测作为与所述聚合涂敷(4)相互作用的所检测THz辐射信号(70)的响应信号(74);‑ 通过优化所述模型参数,使得所述物理模型的预测响应信号与所检测响应信号拟合,来确定所述物理模型的模型参数,所述模型参数指示描述所述THz辐射信号与所述聚合涂敷(4)的相互作用的所述聚合涂敷(4)的光学性质,所确定模型参数包括所述至少一个层的折射率的参数化;‑ 从所确定模型参数来确定所述至少一个涂敷参数,其中所述至少一个涂敷参数包括所述聚合涂敷(4)的厚度。
地址 瑞士苏黎世