发明名称 |
一种辐射源个体特征提取方法 |
摘要 |
本发明公开了一种辐射源个体特征提取方法,包括如下步骤:设每一个云滴所对应的二维位置坐标为S(i)=(x(i),y(i)),求出所有云滴的均值;对每一个云滴根据熵值公式求出熵值;计算对应n个云滴的平均熵值;计算熵值的均方差,利用上述结果根据超熵计算公式获得超熵,本发明在传统特征提取的基础上,对低信噪比下提取到的传统模糊特征构建云团模型,再利用云模型理论的基本数字特征,来刻画特征云团的分布特性,从而实现更精细的信号特征提取。 |
申请公布号 |
CN104809447A |
申请公布日期 |
2015.07.29 |
申请号 |
CN201510232590.5 |
申请日期 |
2015.05.08 |
申请人 |
上海电机学院 |
发明人 |
李靖超 |
分类号 |
G06K9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06K9/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
菅秀君 |
主权项 |
一种辐射源个体特征提取方法,包括如下步骤:步骤一,设每一个云滴(S(i))所对应的二维位置坐标为S(i)=(x(i),y(i)),求出所有云滴的均值(Ex);步骤二,对每一个云滴根据熵值公式求出熵值(En(i));步骤三,计算对应n个云滴的平均熵值(En);步骤四,计算熵值(En(i))的均方差,利用上述结果根据超熵计算公式获得超熵(He)。 |
地址 |
200240 上海市闵行区江川路690号 |