发明名称 POSITION MEASUREMENT SYSTEM, GRATING FOR A POSITION MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
摘要 위치 측정 시스템을 위한 격자가 제공되며, 상기 격자는 제 1 방향으로 격자 라인들의 제 1 어레이를 포함하고, 제 2 방향으로 격자 라인들의 제 2 어레이를 포함한다. 제 1 및 제 2 어레이들은 제 1 및 제 2 어레이들에 입사하는 측정 빔을, 제 1 방향으로의 적어도 하나의 제 1 회절 빔으로 그리고 제 2 방향으로의 적어도 제 2 회절 빔으로 회절시킨다. 적어도 하나의 제 1 회절 빔은 제 1 방향으로의 위치 측정을 위해 사용되고, 적어도 하나의 제 2 회절 빔은 제 2 방향으로의 위치 측정을 위해 사용된다. 측정 빔은 전력 양을 갖고, 격자는 적어도 하나의 제 1 회절 빔 및 적어도 하나의 제 2 회절 빔에 걸쳐 전력 양을 불균일하게 분포시키도록 구성된다.
申请公布号 KR20150087360(A) 申请公布日期 2015.07.29
申请号 KR20157016256 申请日期 2013.11.08
申请人 ASML NETHERLANDS B.V. 发明人 KOENEN WILLEM HERMAN GERTRUDA ANNA
分类号 H01L21/66;G01D5/347;G01D5/38;G02B5/18;G03F7/20;G03F9/00;H01L21/027 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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