发明名称 一种片式功率二极管封装工艺
摘要 本发明公开一种片式功率二极管封装工艺,包括焊接、塑封、成型、电镀和自动检测、印字和包装,片式功率二极管封装设计尺寸为:3.7mm*1.7 mm*1.0mm,PN结两级采用铜框架底部平面引脚工艺。因为铜框架散热能力强,能够长时间在高温环境中正常工作,同时在缩小器件封装体积情况下,通过减小器件的热阻,提高了器件自身的散热性能。此外,封装外形的超小型体积和超薄型器件高度,能够更方便应用在空间受限的场合下实现PCB板的插贴混装设计,提高单位面积的零件密度使整机产品做得更小更薄。
申请公布号 CN102820233B 申请公布日期 2015.07.29
申请号 CN201210309000.0 申请日期 2012.08.28
申请人 绍兴文理学院 发明人 张新华;张若煜
分类号 H01L21/50(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L23/495(2006.01)I 主分类号 H01L21/50(2006.01)I
代理机构 绍兴市越兴专利事务所 33220 代理人 蒋卫东
主权项 一种片式功率二极管封装工艺,包括焊接、塑封、成型、电镀和自动检测、印字和包装,其特征在于:片式功率二极管封装设计尺寸为:3.7 mm *1.7 mm *1.0mm,PN结两级采用铜框架底部平面引脚工艺;所述片式功率二极管为扁平引脚,两引脚间距1.7mm~1.8mm。
地址 312000 浙江省绍兴市环城西路508号绍兴文理学院